地物光譜儀是測量地表植被、農作物、土壤、巖石、水體等地物光譜的光電儀器，一般為四通道，也可裝配更多通道。整機由光學系統(tǒng)、電子線路系統(tǒng)、液晶顯示和智能化微電腦組成。主機配有接口板，并可與其他微型打印機連接，也可與IBM PC XT聯(lián)機。體型小巧輕便，野外工作可裝在三角架上，也可手持進行測量。量測的物理內容有亮度、照度反射率、分光反射率、光譜分布等項目。新設計的地物光譜儀多為雙光譜儀，即在測量地物光譜的同時也測出太陽輻射光譜，這樣可自動消除測量期間太陽輻射引起的誤差。把數據的測量、采集存儲和運算集于一體，是采集地物光譜數據的重要儀器，也是提取地物光譜特征信息的重要工具。
 

　　相比于常規(guī)全波段地物光譜儀，全波段采用高性能制冷型探測器，性能穩(wěn)定且分辨率成倍提升，其*的光譜細節(jié)探測能力，不僅將物質的主要光譜特征峰很好的展現(xiàn)出來，而且能探測到更加精細的光譜特征。適用于遙感測量、農作物監(jiān)測、森林研究到工業(yè)照明測量、海洋學研究和礦物勘察的各方面應用。軟件操作簡單方便、功能強大。此儀器可用做測量輻亮度、CIE顏色、光譜反射率和光譜透過率。
 

　　地物光譜儀是一種常用的光譜儀類型，用戶在操作時需要掌握一定的注意事項，可以更好的使用地物光譜儀。
 

　　1、實用工作曲線的確定
 

　　根據工廠冶煉情況，合金元素的含量范圍不同，確保分析精密度，須采用不同鋼種標鋼分別制作工作曲線。做工作曲線的標鋼數量應該滿足分析合金的需要。
 

　　由于分析試樣是從爐中快速取樣，與標準樣品的組織結構、冶金履歷不一致，為了消除可能產生的偏高或偏低的系統(tǒng)誤差可采用控制試樣法。一般組織結構的不同不會使工作曲線斜率改變，大體上只有平行移動。因此用和分析試樣的組織結構和冶金履歷一致的控制試樣來校正曲線的上下平移，能減少系統(tǒng)誤差。
 

　　2、選好控制試樣
 

　　光譜分析大都采用控制試樣法，這就會遇到有關控制標鋼來源、化學成分的確定及使用等一系列問題。對一些新開展光譜分析工作的單位尤需注意。
 

　　3、分析試樣操作
 

　　分析試樣經切割以后、要磨去表面氧化層，用研磨機磨樣時，試樣和標鋼要同時操作，要力求操作一致，用力過大則易使表面氧化。磨紋要求一致，不應有交叉紋。試樣磨后不宜放置過長，否則造成試料表面氧化，影響分析結果。一般可采用中軟，粒度為360的砂輪片磨樣，此外也可用砂紙或砂輪磨樣。