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FPIRI-HPR-IR-HSI-近紅外高光譜分析檢測儀

  • 輔光儀器進口代理品牌

    產地
  • 上海上海市

    所在地區(qū)
  • 2025-02-05 10:12

    更新時間
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產品詳細

近紅外高光譜分析儀采用高光譜成像系統(tǒng)(HSI)技術,分析樣品化學成分和空間信息的產品信息,特別適合制藥,食品等質量檢測和異物檢查。

近紅外高光譜分析儀特點

連續(xù)實時監(jiān)測

表面異物檢測

摻假檢測

不需要制備樣品

近紅外高光譜分析儀規(guī)格參數(shù)

速度:60米/分鐘

檢測能力:30噸/小時

功耗:2000W

傳送帶:400mm,500mm任選

控制:觸摸屏

重量:200kg

尺寸:1.8m x 1.9m x 1m

近紅外高光譜分析儀

高光譜的異物發(fā)現(xiàn)

近紅外高光譜分析儀

高光譜的異物發(fā)現(xiàn)



近紅外高光譜分析儀采用高光譜成像系統(tǒng)(HSI)技術,分析樣品化學成分和空間信息的產品信息,特別適合制藥,食品等質量檢測和異物檢查。

近紅外高光譜分析儀特點

連續(xù)實時監(jiān)測

表面異物檢測

摻假檢測

不需要制備樣品

近紅外高光譜分析儀規(guī)格參數(shù)

速度:60米/分鐘

檢測能力:30噸/小時

功耗:2000W

傳送帶:400mm,500mm任選

控制:觸摸屏

重量:200kg

尺寸:1.8m x 1.9m x 1m

近紅外高光譜分析儀

高光譜的異物發(fā)現(xiàn)

近紅外高光譜分析儀

高光譜的異物發(fā)


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