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網(wǎng)絡講堂報名中| High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy
2021-06-17 16:12
來源：
布魯克（北京）科技有限公司
會議邀請：
在許多應用領域，如可再生能源（光伏或氫氣技術(shù)）、航空航天和電子領域，半導體（尤其是硅）是不可少的基礎材料。為了保證高效率和產(chǎn)品質(zhì)量，以雜質(zhì)的識別和定量、缺陷的檢測或光學器件的功能測試為形式的硅質(zhì)量控制成為半導體工業(yè)中一項關(guān)鍵而艱巨的任務。
在免費的兩部分網(wǎng)絡研討會中，我們將向您介紹使用傅立葉變換紅外光譜進行半導體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，歡迎屆時參加。
主題：
High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy
語言：英文（English）
時間：
| 第一部分 | 6月14日(周一) 晚上10點-11點 |
| 第一部分（重播） | 6月15日(周二)下午3點-4點 |
| 第二部分 | 6月21日(周一) 晚上10點-11點 |
| 第二部分（重播） | 6月22日(周二)下午3點-4點 |
（以上為北京時間）
報名方式：
點擊此處進入報名頁面，填寫報名信息，并點擊“Register”提交。
關(guān)鍵詞：
傅立葉變換紅外光譜
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