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報名中 | 紅外光譜技術(shù)在硅材料質(zhì)控分析中的應用（英文）

2021-06-17 16:14 來源： 布魯克（北京）科技有限公司
會議邀請：

     在許多應用領(lǐng)域，如可再生能源（光伏或氫氣技術(shù)）、航空航天和電子領(lǐng)域，半導體（尤其是硅）是不可少的基礎(chǔ)材料。為了保證高效率和產(chǎn)品質(zhì)量，以雜質(zhì)的識別和定量、缺陷的檢測或光學器件的功能測試為形式的硅質(zhì)量控制成為半導體工業(yè)中一項關(guān)鍵而艱巨的任務。

     該系列網(wǎng)絡(luò)研討會分為兩部分，在下周的第二場中，我們將向您介紹使用傅立葉變換紅外光譜進行半導體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，歡迎屆時參加。

主題：

High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy

語言：英文（English）

時間：

第二場：6月21日（周一） 晚上10點-11點

第二場（重播）： 6月22日（周二）下午3點-4點

（*以上為北京時間）

會議使用GOTOWEBINAR平臺，由布魯克德國紅外應用專家主講。


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